Doorgaan naar hoofdnavigatie
Doorgaan naar zoeken
Ga verder naar hoofdinhoud
de research portal van de Rijksuniversiteit Groningen Startpagina
Help en veelgestelde vragen
English
Nederlands
Startpagina
Profielen
Onderzoekseenheden
Onderzoeksoutput
Activiteiten
Datasets
Pers/Media
Projecten
Prijzen
Zoeken op expertise, naam of affiliatie
Bekijk Scopus-profiel
Jeff de Hosson
prof. dr.
https://orcid.org/0000-0002-2587-3233
Overzicht
Vingerafdruk
Netwerk
Onderzoeksoutput
(1048)
Datasets
(1)
Soortgelijke profielen
(6)
Begeleid werk
(78)
Onderzoeksoutput
744
Article
210
Conference contribution
40
Chapter
14
Editorial
40
Meer
7
Abstract
6
Poster
5
Erratum
4
Paper
3
Book
3
Other
3
Comment/Letter to the editor
3
Review article
2
Meeting Abstract
2
Letter
1
Patent
1
Thesis fully internal (DIV)
Onderzoeksoutput per jaar
Onderzoeksoutput per jaar
3 resultaten
Publicatiejaar, Titel
(aflopend)
Publicatiejaar, Titel
(oplopend)
Titel
Type
Filter
Comment/Letter to the editor
Zoekresultaten
1991
MECHANICAL STRENGTH OF HIGHLY POROUS CERAMICS
VANDENBORN, I., SANTEN, A., HOEKSTRA, H.,
DEHOSSON, J.
& Born, I. C. V. D.,
1-feb.-1991
,
In:
Physical Review. B: Condensed Matter and Materials Physics.
43
,
4
,
blz. 3794-3796
3 blz.
Onderzoeksoutput
›
Academic
›
peer review
Open Access
Bestand
Mechanical Strength
100%
Porous Ceramics
100%
Silicon Dioxide
33%
Compressive Strength
33%
Silica Catalyst
33%
39
Citaten (Scopus)
393
Downloads (Pure)
1987
Enhanced electron-beam-induced current contrast of grain boundaries in silicon-on-insulator films
Kuper, F. G.,
de Hosson, J. T. M.
& Verwey, J. F.,
15-jun.-1987
,
In:
Journal of Applied Physics.
61
,
12
,
blz. 5475-5477
3 blz.
Onderzoeksoutput
›
Academic
›
peer review
Open Access
Bestand
Silicon
100%
Film
100%
Grain Boundary
100%
Silicon-on-insulator
100%
Electron Beam Induced Current
100%
290
Downloads (Pure)
1986
Density of oxidation-induced stacking faults in damaged silicon
Kuper, F. G.,
de Hosson, J. T. M.
& Verwey, J. F.,
15-aug.-1986
,
In:
Journal of Applied Physics.
60
,
4
,
blz. 1530-1532
3 blz.
Onderzoeksoutput
›
Academic
›
peer review
Open Access
Bestand
Silicon
100%
Density
100%
Oxidation Reaction
100%
Stacking Fault
100%
Stacking Faults
100%
348
Downloads (Pure)