A mesoscopic approach to the study of thin protective coatings by positron beam analysis and scanning electron microscopy

R. Escobar Galindo

    Onderzoeksoutput

    Originele taal-2English
    Toekennende instantie
    • Delft
    Begeleider(s)/adviseur
    • van Veen, A., Supervisor, Externe Persoon
    • de Hosson, Jeff, Supervisor
    Datum van toekenning21-okt.-2003
    StatusPublished - 2003

    Citeer dit