Charge Trapping by Self-Assembled Monolayers as the Origin of the Threshold Voltage Shift in Organic Field-Effect Transistors

Fatemeh Gholamrezaie*, Anne-Marije Andringa, W. S. Christian Roelofs, Alfred Neuhold, Martijn Kemerink, Paul W. M. Blom, Dago M. de Leeuw

*Bijbehorende auteur voor dit werk

OnderzoeksoutputAcademicpeer review

47 Citaten (Scopus)
292 Downloads (Pure)
Originele taal-2English
Pagina's (van-tot)241-245
Aantal pagina's5
TijdschriftSmall
Volume8
Nummer van het tijdschrift2
DOI's
StatusPublished - 23-jan-2012

Citeer dit