Creep Crack Growth: From Discrete to Continuum Damage Modeling

OnderzoeksoutputAcademic

Originele taal-2English
TitelIUTAM Symposium on Creep in Structures
RedacteurenS. Murakami, N. Ohno
Plaats van productieNagoya
UitgeverijSpringer
Pagina's65-74
Aantal pagina's10
Volume86
Uitgave86
ISBN van elektronische versie9789401596282
ISBN van geprinte versie9789048156238
StatusPublished - 2001
EvenementIUTAM Symposium on Creep in Structures, Nagoya, Japan -
Duur: 3-apr-20007-apr-2000

Conference

ConferenceIUTAM Symposium on Creep in Structures, Nagoya, Japan
Periode03/04/200007/04/2000

Citeer dit