CURVATURE MEASUREMENT WITH REFLECTED-LIGHT MICROSCOPY AND ITS APPLICATION TO FLY FACET LENSES

DG STAVENGA*, HL LEERTOUWER

*Bijbehorende auteur voor dit werk

OnderzoeksoutputAcademicpeer review

4 Citaten (Scopus)
363 Downloads (Pure)
Originele taal-2English
Pagina's (van-tot)87-93
Aantal pagina's7
TijdschriftJournal of microscopy-Oxford
Volume158
Nummer van het tijdschrift1
DOI's
StatusPublished - apr.-1990

Citeer dit