Finite element modelling of stress-induced fracture in Ti-Si-N films

E.A. Flores-Johnson, Lu Ming Shen, Ratna K. Annabattula, Patrick Onck, Yao Gen Shen, Zhen Chen

OnderzoeksoutputAcademicpeer review

Originele taal-2English
Pagina's (van-tot)10-15
Aantal pagina's6
TijdschriftApplied Mechanics and Materials
Volume553
StatusPublished - 2014

Citeer dit