Forward

U. Rathod, Marco Aiello, N. Agarwal, R. Raman

OnderzoeksoutputAcademic

Originele taal-2English
Pagina's (van-tot)71-72
Aantal pagina's2
TijdschriftJournal of System Assurance Engineering and Management
Volume3
Nummer van het tijdschrift2
StatusPublished - 2012

Citeer dit