ON MANY-ELECTRON EFFECTS AND MULTIPLET SPLITTINGS IN X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY AS A DIAGNOSTIC-TOOL FOR METALLIC GLASSES

ZM STADNIK*, JF VANACKER, JC FUGGLE, HJWM HOEKSTRA, KHJ BUSCHOW, T MIYAZAKI, G STROINK

*Bijbehorende auteur voor dit werk

OnderzoeksoutputAcademicpeer review

2 Citaten (Scopus)
Originele taal-2English
Pagina's (van-tot)261-264
Aantal pagina's4
TijdschriftMaterials Science and Engineering
Volume99
StatusPublished - mrt-1988

Citeer dit