Proceedings of the 7th Intern. conference on Document Analysis and Recognition

A.K. Chhabra, L.R.B. Schomaker, Jin H. Kim

OnderzoeksoutputAcademic

Originele taal-2Dutch
Plaats van productiePiscataway
UitgeverijIEEE (The Institute of Electrical and Electronics Engineers)
ISBN van geprinte versie0-7695-1960-1
StatusPublished - 2003

Citeer dit