Properties of (Nb-0.35, Ti-0.15)(x)Ni1-x thin films deposited on silicon wafers at ambient substrate temperature

N. N. Iosad, A. V. Mijiritskii, V. V. Roddatis, B. D. Jackson, J. R. Gao, S. N. Polyakov, P. N. Dmitriev, T. M. Klapwijk, N.M. van der Pers

    OnderzoeksoutputAcademicpeer review

    20 Citaten (Scopus)
    235 Downloads (Pure)

    Vingerafdruk

    Duik in de onderzoeksthema's van 'Properties of (Nb-0.35, Ti-0.15)(x)Ni1-x thin films deposited on silicon wafers at ambient substrate temperature'. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.

    Keyphrases

    Material Science