Simulation of X-ray diffraction-line broadening for a material containing misfitting precipitates

T.C. Bor, R. Delhez, E.J. Mittemeijer, E. van der Giessen

OnderzoeksoutputAcademicpeer review

3 Citaten (Scopus)
274 Downloads (Pure)
Originele taal-2Dutch
Pagina's (van-tot)896 - 899
Aantal pagina's4
TijdschriftMaterials science and engineering a-Structural materials properties microstructure and processing
Volume234
Nummer van het tijdschrift3
DOI's
StatusPublished - 1997

Citeer dit